1. 量化絕緣強(qiáng)度極限  

   擊穿電壓直接給出材料在工頻/直流/脈沖電場(chǎng)下可承受的zui大場(chǎng)強(qiáng) Eb = Ub / d（d 為試樣厚度），是表征其介電強(qiáng)度（Dielectric Strength）zui苛刻、最直觀(guān)的本征參數(shù)，為絕緣系統(tǒng)提供明確的安全邊界 。

2. 材料篩選與配方優(yōu)化  

   在研發(fā)階段，通過(guò)對(duì)比不同配方、交聯(lián)度、填料分布或界面缺陷下的 Ub 值，可快速評(píng)估微觀(guān)結(jié)構(gòu)-性能關(guān)系，指導(dǎo)高分子鏈段設(shè)計(jì)、無(wú)機(jī)填料表面改性及工藝窗口優(yōu)化，實(shí)現(xiàn)“結(jié)構(gòu)-缺陷-擊穿"閉環(huán)調(diào)控 。

3. 質(zhì)量一致性控制  

   作為入廠(chǎng)檢驗(yàn)的強(qiáng)制性項(xiàng)目，Ub 測(cè)試用于驗(yàn)證批量材料是否滿(mǎn)足 IEC 60243、ASTM D149、GB/T 1408.1 等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的最小介電強(qiáng)度閾值，防止因雜質(zhì)、氣隙、水分或厚度不均導(dǎo)致的低擊穿異常品流入生產(chǎn)線(xiàn) 。

4. 電氣設(shè)備絕緣設(shè)計(jì)基準(zhǔn)  

   工程師依據(jù) Ub 結(jié)合預(yù)期運(yùn)行場(chǎng)強(qiáng)、過(guò)電壓倍數(shù)及安全裕度（Safety Factor, Ks ≥ 1.2~1.5）確定絕緣件幾何尺寸（厚度、爬電距離、封裝結(jié)構(gòu)），確保變壓器、電纜、功率模塊在長(zhǎng)期工作電壓及雷電/操作沖擊下不發(fā)生電樹(shù)枝化或熱-電協(xié)同擊穿 。

5. 老化狀態(tài)診斷與剩余壽命評(píng)估  

   通過(guò)加速熱-電-機(jī)械老化后 Ub 的衰減率 ΔUb/Ub0，可建立電壽命模型（如反冪律 E^n·t = const.），用于預(yù)測(cè)絕緣系統(tǒng)剩余擊穿時(shí)間，支撐狀態(tài)檢修（CBM）與預(yù)測(cè)性維護(hù)（PdM）策略 。

6. 故障溯源與失效分析  

   對(duì)擊穿失效部位取樣測(cè)試 Ub 并與基線(xiàn)數(shù)據(jù)對(duì)比，可判別失效根因：材料本征缺陷（低 Ub、分散性大）、工藝異常（氣孔、脫層）或運(yùn)行過(guò)應(yīng)力（局部放電、電痕化），為改進(jìn)提供數(shù)據(jù)證據(jù) 。